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硒-75探伤源
性状:
半衰期:119.779天
安全等级:GB4075-2009/C43515
用途:工业γ照相探伤,检查焊缝内部缺陷
主要能量:0.265MeV
安全使用期限:3年
规格/参数:可拫据用户需求定制
版权所有:成都中核高通同位素股份有限公司 技术支持:中核华辉科技发展有限公司
ICP备案号:蜀ICP备2021014762号-1 川公网安备 51019002004103号